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-48V Hot-Swap Controllers with V
IN
Step Immunity and No R
SENSE
4  _______________________________________________________________________________________
Note 1: All currents into pins are positive and all currents out of pins are negative. All voltages referenced to V
EE
, unless otherwise
specified.
Note 2: All limits are 100% tested at +25?/SPAN>C and +85?/SPAN>C. Limits at -40?/SPAN>C and -10?/SPAN>C are guaranteed by characterization.
Note 3: Delay time from a valid on-condition until the load probe test begins.
Note 4: V
EE
or UVLO voltages below V
UVLO,F
or V
UVLO_REF,F
, respectively, are ignored during this time.
Note 5: The time (V
OUT
- V
EE
) > V
SC
+ overdrive until (V
GATE
- V
EE
) drops to approximately 90% of its initial high value.
Note 6: The time when the PGOOD (PGOOD) condition is met until the PGOOD (PGOOD) signal is asserted.
ELECTRICAL CHARACTERISTICS (continued)
(V
EE
= -10V to -80V, V
IN
= GND - V
EE
, V
STEP_MON
= V
EE
, R
LP
= 200&, UVLO open, T
A
= -40癈 to +85癈, unless otherwise noted.
Typical values are at V
EE
= -48V, T
A
= +25癈.) (Notes 1, 2)
PARAMETER
SYMBOL
CONDITIONS
MIN
TYP
MAX    UNITS
LOGIC AND FAULT MANAGEMENT
Autoretry Delay
t
RETRY
16 x
t
LP
s
|V
OUT
 - V
EE
| falling
0.72 x
V
CB
PGOOD (PGOOD) Assertion
Threshold
Hysteresis
0.26 x
V
CB
mV
PGOOD (PGOOD) Assertion Delay
Time (Note 6)
0.67
1.26
1.85
ms
PGOOD (PGOOD) Low Voltage
V
OL
I
SINK
 = 1mA, referenced to V
OUT,
V
OUT
< GND - 5V for PGOOD (PGOOD)
0.05
0.4
V
PGOOD (PGOOD) Open-Drain
Leakage
I
L
V
EE
 = -80V, V
PGOOD(PGOOD)
,
V
PGOOD(PGOOD)
 = GND
0.01
1
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